inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測試

inTEST 熱流儀應用于集成電路科研項目案例: 國內某高校選用 inTEST 高低溫測試機 ATS-545 用于研發高性能微處理器, 網絡通信芯片, 功率器件, 藍牙芯片等科研項目. 如工業級 ICU 芯片要求測試溫度 -40℃ 至 110℃, 溫變速率 -50℃ 至 125℃≤10s, 在帶電情況下, 分別設置高溫, 常溫, 低溫進行溫度循環.

ATS-545-M

溫度范圍 °C: -75 至 + 225(50 HZ)

變溫速率: -55至 +125°C

              約 10 S 或更少

             +125至 -55°C

             約 10 S 或更少

輸出氣流量: 4 至 18 scfm

溫度精度: ±1℃ 通過美國NIST 校準

溫度顯示分辨率: ±0.1℃

溫度傳感器: T或K型熱電偶

防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻

美國 inTEST 熱流儀通過每秒快速升溫或降溫 18°C, 對 PCB 電路板中的某一單個 IC (模塊) 或整塊集成電路提供準確且快速的環境溫度. 與傳統高低溫試驗箱不同的是 inTEST 高低溫測試機可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個 IC (模塊)可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件.

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