產品資料

inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測試

如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測試
產品型號:
產品展商: inTEST ThermoStream

簡單介紹

inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測試: 觸摸屏控制芯片又稱觸摸屏芯片, 觸控芯片, 屬于半導體芯片一種, 廣泛應用于如消費類電子, 家用電器, 車載觸摸屏, 移動終端, 智能電網, 物聯網等多個領域. 觸控芯片的關鍵性能指標, 除響應速度, 抗電磁干擾, 防水等要求外, 芯片工作溫度也要求非常高.


inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測試  的詳細介紹

美國 inTEST 熱流儀提供觸摸屏控制芯片高低溫測試解決方案

某觸控芯片企業, 其產品已在全球十多億臺智能設備上運行, 廣泛應用于手機, 平板電腦, 筆記本電腦, 智能家居, 汽車等產品. 一直采用美國 inTEST ATS-710E-M 熱流儀與其測試機搭配, 為分析觸摸屏控制芯片, 觸摸板控制芯片, MCU 觸摸按鍵等產品的特性提供快速精準的外部溫度環境, 實現測試芯片性能的要求.


inTEST 熱流儀滿足觸控芯片的三項測試標準:

一. 基本性能測試: 溫度范圍 -50℃ 至 120℃ 之間快速循環測試

二. 特殊功能測試(非標準測試): 搭配測試機共同使用, 通過軟件控制機臺, 通常設定3個溫度點, 高溫(80℃或 120℃), 常溫 25℃, 低溫 -50℃; 結合測試機測參數, 測試時間可幾秒鐘, 幾十分鐘, 甚至幾個小時.

三. 可靠性測試


美國 inTEST ThermoStream 熱流儀是為觸摸屏芯片提供低溫或高溫環境來進行可靠性測試的專用儀器, 因為其能在短時間內迅速改變溫度而被廣泛應用于芯片測試中, 能夠模擬觀察芯片在惡劣環境下的性能是否能維持正常水平. 測試系統在工作過程中, 會依據設定的溫度, 使系統通過特定的運算得出結果并去控制加熱器來達到調節溫度的目的.



inTEST 熱流儀功能特點:

型號: ATS-710E-M

溫度范圍: -80 至+225 °C

變溫速率: -55至 +125°C 約 10 s; +125至 -55°C 約 10 s

溫度顯示精度: ±1℃ (通過美國國家標準與技術研究院 NIST 校準)

自動升降溫: 冷凍機特殊設計, 制冷劑不含氟利昂, 無毒, 不易燃, 有效保護環境; 不需要液態氮氣 LN2 或液態二氧化碳 LCO2 冷卻

預防結霜: 干燥氣流循環吹掃測試表面, 防止水汽凝結 (氣體流量 0.5 至 3 scfm)

自動待機: 空閑或加熱模式下, 自動減少能耗

加熱除霜: 快速去除冷凍機內部積聚的水汽


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