產品資料

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber

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產品名稱: 高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
產品型號:
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簡單介紹

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產品(整機)、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環次數等因素。高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber  的詳細介紹



高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber簡介:本試驗箱適用于考核產品(整機)、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環次數等因素。

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術參數

型號

單位

TS-60

TS-120

TS-120P

TS-300

TS-300P

測試空間容積

L

60

120

120

300

300

移動提籃最大負載

Kg

20

50

50

100

100

實驗空間尺寸,高(H×寬(W×深(D

mm

370x380x430

410x470x650

410x470x650

610x770x650

610x770x650

熱箱溫度范圍

+50 至 +220

+50 至 +220

+50 至 +220

+50 至 +220

+50 至 +220

冷箱溫度范圍

-80至 +70

-80至 +70

-80至 +70

-80至 +70

-80至 +70

熱箱升溫速率

K/min

17

14

18

11

23

冷箱降溫速率1

K/min

3.7

6.3

7.5

5.0

12.0

冷箱升溫速率,單箱操作1

K/min

3.7

2.0

2.0

1.5

1.5

溫度波動度2

K

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

溫度均勻性3

K

±0.5 至±2.0

±0.5 至±2.0

±1.0至±2.0

±0.5 至±2.0

±1.0至±2.0

/冷箱轉換時間

sec

<10

<10

<10

<10

<10

恢復時間-溫度變化測試

min

<154

<155

<126

<157

<158

熱箱校準值9

+125

+125

+125

+125

+125

冷箱校準值9

-40

-40

-40

-40

-40

1根據IEC 60068-3-5.通過選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來提高溫度變化速率.

2有效測試空間中心點。

3基于設置點:溫度范圍-65 to +200

4MIL-STD-883E,方法 1010.9,強度級 D4.5 kglCs 分布于2個樣品架內,樣品內測量.

5MIL-STD-883J,方法 1010.9,強度級 D12 kglCs 分布于3個樣品架內,樣品內測量.

6MIL-STD-883F,方法1010.9,強度級 D20 kgCs 分布于3個樣品架內,樣品內測量.

7MIL-STD-883J,方法 1010.9,強度級 F25 kg lCs 分布于3個樣品架內,樣品內測量.

8MIL-STD-883 F,方法 1010.9,強度級 F50 kglCs 分布于3個樣品架內,樣品內測量.

9出廠計量.


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