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用途适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;4、GJB150.5-86温度冲击试验;5、GJB360.7-87温度冲击试验;6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
1、以上产品外尺寸不包含突出部分,产品尺寸可按客户要求定做;2、以上技术参数在室温20℃,无负荷条件下测得的数据。3、突出部分不包含在内部尺寸和外部尺寸内。
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