新G5固态硬盘生产/老化测试系统

产品介绍

OVEN固态硬盘生产/老化测试系统提供全面的固态硬盘测试解决方案，涵盖温度控制、供电电压脚本编程，支持多种SSD规格和协议，包括NVMe Ver2.0。拥有丰富的脚本库、数据库分析系统和可定制的LTWolf软件。支持生产系统对接和数据管理，具备防火墙保护和成熟测试算法。

产品特点

• 全方位一体化固态硬盘测试解决方案;

• 温度控制范围 -10℃ to 85℃;

• 温度变化速度 1℃/分钟;

• 温度均匀性土3℃(根据测试负载情况，可能会略有偏差);

• 支持PCIe Gen5 x4，支持 PCIe L1.1/L1.2 低功耗测试，支持128/256 DUTs 同测；

• 支持U.2、M.2、E3.S等SSD形态规格；

• 每个测试端口供电电压可以脚本编程控制，控制范围是0.6V - 14.5V，控制精度1mV;

• 支持SATA传统协议，支持最新的NVMe Ver2.0 协议并支持用户自定义NVMe 命令；

• 丰富的脚本库，以及数据库分析系统；

• LTWolf 软件，可以根据客户要求额外定制软功能;

• 支持客户生产MES系统对接，也可根据客户定制生产数据管理系统;

• 防火墙保护设计，测试电路与被测产品(DUT)完全隔离;

• 完善且成熟的测试算法 ，包括：EVT、DVT、 RDT、TVM等。