128槽位SSD固态硬盘高性能高低温环境测试系统

风冷部署更方便！

产品介绍

OVEN-SSD-128-10 是针对NVMe固态硬盘高性能测试要求设计的高密度测试系统，可以同时容纳128个SSD同测。支持温度范围是 -10ºC - 85ºC。支持最新的PCIe Gen5 x4 通道并支持最新的NVMe Ver2.0 协议规范。每一个测试插槽都可以独立控制对固态硬盘的供电电压以及电压拉偏，电压拉偏的范围是0V – 14.5V。测试系统拥有成熟的固态硬盘生产测试体系经验，可以全面支持消费级/企业级固态硬盘的研发性小批量测试，其中包括EVT, DVT, PVT 以及量产测试需要的MP, ORT, ODT等等品质以及可靠性测试。它的友好操作方式以及高度灵活的配置，可以为固态硬盘生产最大效率的提升产能和品质。

产品特点

• 全方位一体化固态硬盘测试解决方案;

• 温度控制范围 -10ºC to 85ºC;

• 温度变化速度 1ºC/分钟

• 支持PCIe Gen5 x4;

• 每个测试端口供电电压可以脚本编程控制，控制范围是0.6V - 14.5V，控制精度1mV;

• 支持最新的NVMe Ver2.0 协议并支持用户自定义NVMe 命令.

• 丰富的脚本库, 以及数据库分析系统；

• LTWolf 软件，可以根据客户要求额外定制软功能;

• 支持客户生产MES系统对接，也可根据客户定制生产数据管理系统;

• 防火墙保护设计，测试电路与被测产品(DUT)完全隔离;

• 完善且成熟的测试算法 ，包括：EVT, DVT, RDT, TVM, 等;

产品详情